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安全保障和非破壞性分析（NDA）應(yīng)用中所需的精確同位素比率測(cè)量對(duì)伽馬射線(xiàn)和X射線(xiàn)光譜技術(shù)提出了嚴(yán)格的要求。對(duì)能量區(qū)域的選擇具體取決于樣品類(lèi)型、源以及材料基質(zhì)。
為獲得高精度同位素比而編寫(xiě)的國(guó)家實(shí)驗(yàn)室軟件代碼必須能夠處理這些光譜以分析其中峰組緊靠在一起的低能量和/或高能量區(qū)域。每個(gè)代碼都需要的系統(tǒng)分辨率和穩(wěn)定性，以準(zhǔn)確展開(kāi)這些區(qū)域。
最近的安全保障發(fā)展趨勢(shì)促進(jìn)了同位素比率測(cè)定需求的不斷增長(zhǎng)，其中涉及到更高的能量伽馬射線(xiàn)。這需要測(cè)量衰減樣品，例如在廢物分析和某些國(guó)土安全應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)的樣品。現(xiàn)在，諸如FRAM和MGAHI的軟件代碼可以從光譜的較高能量區(qū)域確定Pu同位素比率。因此，希望生產(chǎn)這樣一種HPGe探測(cè)器，它既具有更高的能量性能，同時(shí)又能保持這些應(yīng)用中所需的優(yōu)異分辨率特性。
ORTEC安全保障系列包括同軸和平面幾何探測(cè)器，專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于滿(mǎn)足同位素比率測(cè)定中應(yīng)用軟件的需求，可在低能量分辨率和高能效之間達(dá)到平衡。
SGD平面探測(cè)器與所有常規(guī)MCA型號(hào)兼容，與ORTEC數(shù)字信號(hào)處理光譜儀一起使用時(shí)可獲得性能。
所有SGD平面探測(cè)器都具有以下特點(diǎn)：
- 可選擇固定式、便攜式和定制低溫恒溫器，包括的MOD多方位杜瓦瓶選件。
- 堅(jiān)固耐用的鋁制端蓋
- 精簡(jiǎn)型前置放大器組件
- 無(wú)LN2選件
的低功耗電阻反饋前置放大器，具有“無(wú)環(huán)”輸出，適用于所有現(xiàn)有類(lèi)型的MCA系統(tǒng)。在±12和±24 V時(shí)功耗小于25 mA
應(yīng)用注意事項(xiàng)
對(duì)于涉及驗(yàn)證申報(bào)材料值的安全保障核實(shí)測(cè)量，在專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的薄壁容器中通常采用純樣品。這發(fā)生在采用便攜式系統(tǒng)的常規(guī)安全保障檢查程序中。
